多層陶瓷電容器溫度特性評估系統

產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-27

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H多層陶瓷電容器溫度特性評估系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H多層陶瓷電容器溫度特性評估系統由華測儀器生產，系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

一、產品優勢

1、至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數，至多64個通道

2、圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查

3、可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗；測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合

溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數據，并與溫度變化同步，頻率步數201步（范圍可定制）

持續運行測試：測試模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據

頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據

4、多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本（可選）

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據離散設備形狀定制的夾具

二、產品參數

測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）

恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）

頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）

通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量

測量方法：交流四端對測量

測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

電容量(C)：50 pF ~ 5 mF

損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

測量儀器：LCR表（可按需選擇型號）

直流偏壓：0 ~ ±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償